IEC 62276-2012 表面声波装置用单晶薄片.规格和测量方法

认证网 (2018/12/4 16:42:13)  浏览:397  评论:0

       【英文标准名称】:Singlecrystalwafersforsurfaceacousticwave(SAW)deviceapplications-Specificationsandmeasuringmethods
　　
　　【原文标准名称】:表面声波(SAW)装置用单晶薄片.规格和测量方法
　　
　　【标准号】:IEC62276-2012
　　
　　【标准状态】:现行
　　
　　【国别】:国际
　　
　　【发布日期】:2012-10
　　
　　【实施或试行日期】:
　　
　　【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
　　
　　【起草单位】:IEC/TC49
　　
　　【标准类型】:()
　　
　　【标准水平】:()
　　
　　【中文主题词】:声波;晶体点阵;晶体(电子);定义;电气工程;电性能;电性质和电现象;电子设备及元件;频率稳定;测量;测量技术;测量方法;压电器件;压电;石英晶体;额定值;单晶;规格;表面声波装置;表面声波;试验;薄片
　　
　　【英文主题词】:Acousticwaves;Crystallattices;Crystals(electronic);Definitions;Electricalengineering;Electricalproperties;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Frequencystabilization;Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Piezoelectricdevices;Piezoelectricity;Quartzcrystals;Ratings;Singlecrystal;Specifications;Surfaceacousticwavedevices;Surfaceacousticwaves;Testing;Wafers
　　
　　【摘要】:
　　
　　【中国标准分类号】:
　　
　　【国际标准分类号】:31_140
　　
　　【页数】:82P;A4
　　
　　【正文语种】:英语

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